Testen Daten vun Zell Thermal Runaway anAnalyse vun GasProduktioun,
Analyse vun Gas,
Fir d'Sécherheet vu Persoun a Besëtz, etabléiert Malaysia Regierung Produkt Zertifizéierungsschema a setzt Iwwerwaachung op elektronesch Apparater, Informatioun & Multimedia a Baumaterial. Kontrolléiert Produkter kënnen nëmmen a Malaysia exportéiert ginn nodeems de Produkt Zertifizéierungszertifika a Label kritt huet.
SIRIM QAS, eng ganz Besëtzer Duechtergesellschaft vum Malaysian Institute of Industry Standards, ass déi eenzeg designéiert Zertifizéierungsunitéit vun de malayseschen nationalen Reguléierungsagenturen (KDPNHEP, SKMM, etc.).
Déi sekundär Batterie Zertifizéierung gëtt vum KDPNHEP (Malaysian Ministry of Domestic Trade and Consumer Affairs) als eenzeg Zertifizéierungsautoritéit bezeechent. Momentan kënnen Hiersteller, Importer an Händler fir d'Zertifizéierung op SIRIM QAS ufroen a fir d'Tester an d'Zertifizéierung vu sekundäre Batterien ënner dem lizenzéierte Zertifizéierungsmodus ufroen.
Sekundär Batterie ass momentan ënner fräiwëlleg Zertifizéierung awer et wäert geschwënn am Kader vun der obligatorescher Zertifizéierung sinn. De genauen obligatoresche Datum ass ënnerleien der offizieller malaysescher Ukënnegungszäit. SIRIM QAS huet scho ugefaang Zertifizéierungsufroen ze akzeptéieren.
Secondaire Batterie Zertifizéierung Standard: MS IEC 62133:2017 oder IEC 62133:2012
● Etabléiert e gudden techneschen Austausch- an Informatiounsaustauschkanal mam SIRIM QAS, deen e Spezialist zougewisen huet fir nëmme mat MCM Projeten an Ufroen ze behandelen an déi lescht präzis Informatioun vun dësem Gebitt ze deelen.
● SIRIM QAS erkennt MCM Testdaten sou datt Proben am MCM getest kënne ginn anstatt a Malaysia ze liwweren.
● Fir One-Stop Service fir Malaysesch Zertifizéierung vu Batterien, Adapter an Handyen ze bidden.
T1 ass d'Ufankstemperatur bei där d'Zell ophëtzt an intern Materialien zersetzen. Säi Wäert reflektéiert d'allgemeng thermesch Stabilitéit vun der Zell. Zellen mat méi héije T1 Wäerter si méi stabil bei héijen Temperaturen. D'Erhéijung oder Ofsenkung vun T1 wäert d'Dicke vun SEI Film Afloss. Déi héich an niddreg Temperatur Alterung vun der Zell wäert de Wäert vun T1 erofgoen an d'thermesch Stabilitéit vun der Zell méi schlecht maachen. Niddereg Temperatur alternd wäert de Wuesstem vun Lithium dendrites Ursaach, doraus an der Ofsenkung vun T1, an héich Temperatur alternd féiert zu der Broch vun SEI Film, an T1 wäert och erofgoen.
T2 ass d'Drockrelieftemperatur. Rechtzäiteg Erliichterung vun intern Gas kann Hëtzt gutt dissipate an d'Tendenz vun thermesch Lafen erofzesetzen.T3 ass den Ausléiser Temperatur vun thermesch Lafen, an de Startpunkt vun Hëtzt Fräisetzung aus der Zell. Et huet eng staark Relatioun mat der Substrat Leeschtung vun der Membran. De Wäert vum T3 reflektéiert och d'thermesch Resistenz vum Material an der Zell. Eng Zell mat méi héijer T3 wäert méi sécher sinn ënner verschiddene Mëssbrauchsbedéngungen.
T4 ass déi héchst Temperatur déi d'Zellen während der thermescher Flucht erreechen kënnen. De Risiko vun der thermescher Fluchtverbreedung am Modul oder Batteriesystem ka weider evaluéiert ginn andeems d'total Hëtztgeneratioun (ΔT = T4 -T3) wärend der thermescher Flucht vun der Zell bewäert gëtt. Wann d'Hëtzt ze héich ass, féiert et zu thermesche Laf vun den Zellen ronderëm, a schliisslech Verbreedung zum ganze Modul.